發(fā)布時(shí)間：2021-12-14

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低于這兩個(gè)實(shí)驗(yàn)所達(dá)到的水平。 關(guān)鍵問(wèn)題是，量子糾錯(cuò)需要對(duì)校驗(yàn)算符進(jìn)行重復(fù)測(cè)量以發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，并通過(guò)解碼這些測(cè)量來(lái)更新邏輯信息。這不僅需要一個(gè)強(qiáng)大的量子處理器，還需要一個(gè)高度集成的經(jīng)典處理器和控制器[5

發(fā)布時(shí)間：2021-03-08

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整個(gè)程序。接下來(lái)，我就只能坐著慢慢等了。 ? 當(dāng)一個(gè)實(shí)驗(yàn)做不成的時(shí)候，往往攪得再天翻地覆也還是不行。同樣，有些實(shí)驗(yàn)卻是你想搞砸都砸不了的。無(wú)論我重復(fù)測(cè)量幾次，X射線儀讀出的衍射角度都會(huì)在同一個(gè)地方出現(xiàn)

發(fā)布時(shí)間：2018-10-22

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，Next Observation Carried Backward，與LOCF方向相反——使用缺失值后面的觀測(cè)值進(jìn)行填補(bǔ)） ? 這是分析可能缺少后續(xù)觀測(cè)值的縱向重復(fù)測(cè)量數(shù)據(jù)的常用方法?？v向數(shù)據(jù)在不同時(shí)

發(fā)布時(shí)間：2016-04-22

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智力發(fā)展存在消極影響的因果解釋是否成立，而本文分析推翻了這種長(zhǎng)期存在的因果解釋。利用傳統(tǒng)回歸分析方法對(duì)數(shù)據(jù)分析的結(jié)果仍然表明孩子數(shù)量對(duì)智力發(fā)展存在消極影響，但是利用固定效應(yīng)模型進(jìn)行同胞分析和重復(fù)測(cè)量分

發(fā)布時(shí)間：2016-01-29

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計(jì)對(duì)用戶(hù)來(lái)說(shuō)更好呢？這就需要對(duì)這兩個(gè)“概念設(shè)計(jì)”進(jìn)行“概念測(cè)試”。 于 是我就設(shè)計(jì)了一個(gè)被試內(nèi)重復(fù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)，邀請(qǐng)一組用戶(hù)過(guò)來(lái)，分別對(duì)A、B兩款遙控器繼續(xù)模擬按鍵操作。所謂模擬按鍵是指，事先通過(guò)3D打印

發(fā)布時(shí)間：2012-10-10

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超高Q值的腔體，能夠?qū)⒐庾哟鎯?chǔ)在鏡子之間，時(shí)間超過(guò)0.1秒。將光量子儲(chǔ)存在腔體之后，ENS團(tuán)隊(duì)就可以無(wú)破壞地對(duì)相同的場(chǎng)進(jìn)行重復(fù)測(cè)量，將場(chǎng)投影到具有確定光子數(shù)數(shù)目的狀態(tài)上（即Fock態(tài)），同時(shí)可以觀察腔